專利審查基準及實務(上)程序、發明(Ⅰ)篇(二版)

專利審查基準及實務(上)程序、發明(Ⅰ)篇(二版)

作者:張仁平, 出版社: , 出版日期:2014-01-01

商品條碼:9789862553817, ISBN:9862553812
分類標籤:法律 » 專業/教科書/政府出版品 » 法政類 » 民事法

 

內容簡介

專利審查基準及實務(上)程序、發明(Ⅰ)篇(二版)

  本書分為上下兩冊,包括程序、發明、設計、新型及舉發等五篇,其中彙整案例超過250則,考題超過1000題。上冊為「程序審查及專利權管理篇」及「發明專利實體審查篇」最重要之第一至第三章等,內容充實深入,完整詮釋專利審查基準及實務。

  本書適用對象廣泛,舉凡專利審查人員審案及訓練之參考、從業者(事務所之專利師及專利工程師、專利代理人及專利工程師、企業之智權及法務人員)申請專利之實務及研究參考、有志從事專利工作者之入門及應試參考(專門職業及技術人員高考專利師考試、智慧財產人員能力認證考試)等,皆可各取所需。

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